測(cè)長(zhǎng)機(jī)是什么？

以線紋尺的刻度或光波波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度，利用機(jī)械測(cè)頭進(jìn)行接觸測(cè)量的光學(xué)長(zhǎng)度測(cè)量工具。測(cè)長(zhǎng)機(jī)具有能在3個(gè)坐標(biāo)內(nèi)移動(dòng)和2個(gè)坐標(biāo)內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)的可調(diào)工作臺(tái)，還帶有不同測(cè)頭和附件，常用于檢定大尺寸量塊和測(cè)量多種工件的內(nèi)、外尺寸。測(cè)長(zhǎng)機(jī)有1米、3米、6米和6米以上等幾種測(cè)量范圍，分度值通常為1微米。為求結(jié)構(gòu)緊湊，多數(shù)測(cè)長(zhǎng)機(jī)不采用阿貝原則（見(jiàn)長(zhǎng)度測(cè)量工具），而采用愛(ài)賓斯坦光學(xué)系統(tǒng)。這種光學(xué)系統(tǒng)能自動(dòng)補(bǔ)償由于導(dǎo)軌直線度誤差引起的測(cè)量誤差。

測(cè)量范圍在1米以內(nèi)的習(xí)慣上稱為測(cè)長(zhǎng)儀，它利用讀數(shù)顯微鏡和帶有線紋尺的測(cè)量軸組成的測(cè)量系統(tǒng)（習(xí)慣上稱為阿貝頭）進(jìn)行接觸測(cè)量。阿貝頭的示值范圍一般為100毫米。測(cè)長(zhǎng)儀有立式和臥式兩種。它的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)一般符合阿貝原則，故通常也稱為阿貝測(cè)長(zhǎng)儀。立式測(cè)長(zhǎng)儀和臥式測(cè)長(zhǎng)儀的測(cè)量范圍通常分別不大于250毫米和600毫米(測(cè)量范圍大于100毫米時(shí)需要用量塊調(diào)整零位)。前者主要用于測(cè)量外尺寸,后者主要用于測(cè)量較大工件或在立式測(cè)長(zhǎng)儀上不易定位的工件如圓盤(pán)等的內(nèi)、外尺寸等。

便攜式測(cè)長(zhǎng)儀

測(cè)長(zhǎng)機(jī)原理：

1.標(biāo)準(zhǔn)器：采用高精度光柵系統(tǒng)作為反饋X軸向距離的標(biāo)準(zhǔn)器；

2.測(cè)量原理：利用頭座的測(cè)力并使用測(cè)帽球面（針對(duì)平面物體測(cè)量-如量塊，校對(duì)桿，千分尺，卡規(guī)等）接觸被測(cè)平面，五軸工作臺(tái)的水平方向浮動(dòng)，使得尾座測(cè)帽球面與被測(cè)件另一平面接觸；從而測(cè)得兩測(cè)帽球面頂點(diǎn)間的距離；

利用頭座的測(cè)力并使用平面測(cè)帽的平面（針對(duì)圓周外徑測(cè)量，如光面塞規(guī)，針規(guī)及棒材）接觸被測(cè)平面，五軸工作臺(tái)的水平方向浮動(dòng)，使得尾座測(cè)帽球面與被測(cè)件另一平面接觸；從而測(cè)得兩測(cè)帽平面間的距離；

利用頭座測(cè)力并使用平面測(cè)帽接觸三針使三針與螺紋塞規(guī)螺紋槽中徑截面點(diǎn)接觸，得到平面測(cè)帽間的距離，并加上三針針徑，使用三針?lè)ㄓ?jì)算得到螺紋單一中徑；

利用T型測(cè)球與螺紋環(huán)規(guī)內(nèi)螺紋槽中徑截面點(diǎn)分別接觸，得到一組螺紋中截面中徑數(shù)據(jù)，并通過(guò)三針?lè)ㄓ?jì)算得到螺紋單一中徑；

3.數(shù)據(jù)修正：通過(guò)測(cè)力修正系統(tǒng)及溫度修正系統(tǒng)將X軸向光柵反饋的數(shù)據(jù)進(jìn)行修正得到正確的X軸標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度數(shù)值；

4.軟件標(biāo)準(zhǔn)及數(shù)據(jù)計(jì)算：軟件系統(tǒng)內(nèi)置多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，并通過(guò)對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)計(jì)算得到檢定所需數(shù)據(jù)（如螺紋的單一中徑，量塊的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，光面規(guī)的真值等。